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[硬件设计] ADS怎样灵活定位程序、数据到绝对地址?(转载) 点击:803
 《ADS怎样灵活定位程序、数据到绝对地址?--关于“分散加载(Scatterloading)”技术》[龙啸九天] [221次] 02-11-29 2:52:20这篇文章转载自ARM网站的FAQ,原文网址:http:/www.arm.com/support/ads_faq?Opendocument&ExpandSection=21#_Section21在嵌入式的实际应用(2008-11-19)
[硬件设计] [推荐]一些电平标准 点击:510
   下面总结一下各电平标准。和新手以及有需要的人共享一下^_^.   现在常用的电平标准有TTL、CMOS、LVTTL、LVCMOS、ECL、PECL、LVPECL、RS232、RS485等,还有一些速度比较高的LVDS、GTL、PGTL、CML、HSTL、SSTL等。下面简单介绍一下各自的供电电源、电平标准以及(2008-11-19)
[硬件设计] S3C2410A中文数据手册model(第二章) 点击:477
 第二章 处理器工作模式 点击下载: pdf_chinese/s3c2410a_2programmermodel.pdf(2008-11-19)
[硬件设计] S3C2410的LCD驱动编写指南 点击:503
 非常好的总结性文章,强烈推荐! 点击下载: http://www.hzlitai.com.cn/bbs/dispbbs.asp?BoardID=11&ID=1647&replyID=&skin=1(2008-11-19)
[硬件设计] S3C2410A中文数据手册memory(第五章) 点击:392
 第五章 存储器控制器 点击下载: S3C2410/pdf_chinese/s3c2410a_5memory.pdf(2008-11-19)
[硬件设计] S3C2410A中文数据手册nandflash(第六章) 点击:396
 第六章 Nandflash控制器 点击下载: S3C2410/pdf_chinese/s3c2410a_6nandflash.pdf(2008-11-19)
[硬件设计] Nandflash的坏块 点击:1141
 1)为什么会出现坏块由于NAND Flash的工艺不能保证NAND的Memory Array在其生命周期中保持性能的可靠,因此,在NAND的生产中及使用过程中会产生坏块。坏块的特性是:当编程/擦除这个块时,不能将某些位拉高,这会造成Page Program和Block Erase操作时的错误,相应地反映(2008-11-19)
[硬件设计] S3C2410A中文数据手册ADC(第十六章) 点击:361
 第十六章 ADC和触摸屏接口 点击下载: S3C2410/pdf_chinese/s3c2410a_16adc.pdf(2008-11-19)