应用实例 - 文章列表

满足的嵌入式系统电路特性测试需求的JTAG技术 点击:408
 引言:EEE 1149.1边界扫描测试标准(通常称为JTAG、1149.1或"dot 1")是一种用来进行复杂IC与电路板上的特性测试的工业标准方法,大多数复杂电子系统都以这种或那种方式用到了IEEE1149.1(JTAG)标准。为了更好地理解这种方法,本文将探讨在不同年代的系统开发与设计中是(2008-11-14)
嵌入式开发杂谈 点击:387
 在刚刚涉足嵌入式开发的时候,总想找到这样一本书,它可以解决我一些这样那样的疑。但是遗憾的是,到现在也没有这样一本书面世,而且我想永远也不可能面世了。因为我疑惑太多太杂了。这些疑惑在教科书中又难以寻找到答案。C教程注重讲C的语法,编原理注重讲语法,语义的(2008-11-14)
英文电子专业词汇(新手必备) 点击:385
 Exceeding the specifications below may result in permanent damage to the device, or device malfunction. Operation outside of the parameters specified in the Electrical Characteristics section is not implied. 超过下面的规格使用可能引起永久的设备损害或(2008-11-14)